UMSA
Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: http://elib.umsa.edu.ua/jspui/handle/umsa/5966
Назва: Спосіб виготовлення напівтонких зрізів для мікроскопічного дослідження
Автори: Старченко, Іван Іванович
Ткаченко, Павло Іванович
Білоконь, Сергій Олександрович
Дата публікації: 2014
Видавець: Державна служба інтелектуальної власності України
Бібліографічний опис: Пат. № 91604 Україна МПК (2014.01) G 01 N 1/00. Спосіб виготовлення напівтонких зрізів для мікроскопічного дослідження / Старченко І. І., Ткаченко П. І., Білоконь С. О. ‒ № u 2014 01323; заявл. 11.02.2014 ; опубл. 10.07.2014, Бюл. № 13.
Короткий огляд (реферат): При невеликих збільшеннях світового мікроскопа з гістотопографічних шліфів вибирається певна необхідна ділянка розміром приблизно 3х4. За допомогою леза безпечної бритви під контролем бінокулярної лупи вона вирізається зі шліфу із подальшим наклеювання вирізаного фрагменту за допомогою ЕПОН-812 на заздалегідь виготовлені епоксидні блоки із суворо паралельною площиною піраміди. З наклеєних фрагментів за допомогою ультрамікротома отримують напівтонкі зрізи завтовшки 1-2 мкм, які забарвлюються різними методиками (толуїдиновим синім, за Малорі, поліхромними барвниками).
Ключові слова: гістотопографічні шліфи
епоксидні блоки
напівтонкі зрізи
ЕПОН-812
URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): http://elib.umsa.edu.ua/jspui/handle/umsa/5966
Розташовується у зібраннях:Інтелектуальна власність
Патенти

Файли цього матеріалу:
Файл Опис РозмірФормат 
Patent_Starchenko.pdf1,23 MBAdobe PDFПереглянути/Відкрити


Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.